Dia300x1.0mmt 두께 사파이어 웨이퍼 C-Plane SSP/DSP
웨이퍼 박스 소개
크리스탈 소재 | 99.999% Al2O3, 고순도, 단결정, Al2O3 | |||
크리스탈 품질 | 내포물, 블록 마크, 트윈, 색상, 미세 기포 및 분산 센터가 존재하지 않습니다. | |||
지름 | 2인치 | 3인치 | 4인치 | 6인치 ~ 12인치 |
50.8± 0.1mm | 76.2±0.2mm | 100±0.3mm | 표준 생산 규정에 따라 | |
두께 | 430±15마이크로미터 | 550±15마이크로미터 | 650±20마이크로미터 | 고객이 직접 맞춤 제작 가능 |
정위 | C-평면(0001)에서 M-평면(1-100) 또는 A-평면(1 1-2 0)까지 0.2±0.1° /0.3±0.1°, R-평면(1-1 0 2), A-평면(1 1-2 0), M-평면(1-1 0 0), 모든 방향, 모든 각도 | |||
1차 평면 길이 | 16.0±1mm | 22.0±1.0mm | 32.5±1.5mm | 표준 생산 규정에 따라 |
기본 평면 방향 | A평면(1 1-2 0) ± 0.2° | |||
티티비 | ≤10µm | ≤15µm | ≤20µm | ≤30µm |
LTV | ≤10µm | ≤15µm | ≤20µm | ≤30µm |
티르 | ≤10µm | ≤15µm | ≤20µm | ≤30µm |
절하다 | ≤10µm | ≤15µm | ≤20µm | ≤30µm |
경사 | ≤10µm | ≤15µm | ≤20µm | ≤30µm |
전면 | 에피폴리싱(Ra< 0.2nm) |
*활선: 클램프가 없는 자유 웨이퍼의 중앙 표면 중심점과 기준 평면의 편차입니다. 기준 평면은 정삼각형의 세 모서리로 정의됩니다.
*워프: 위에 정의된 기준 평면에서 자유롭고 클램프되지 않은 웨이퍼의 중앙 표면의 최대 거리와 최소 거리의 차이입니다.
차세대 반도체 소자 및 에피택셜 성장을 위한 고품질 제품 및 서비스:
높은 평탄도(TTV, 휘어짐, 뒤틀림 등 제어됨)
고품질 세척(입자 오염 낮음, 금속 오염 낮음)
기판 드릴링, 홈 가공, 절단 및 뒷면 연마
기판의 청결도, 형상 등의 데이터 첨부 (선택사항)
사파이어 기판이 필요하시면 언제든지 문의해 주세요.
우편:eric@xkh-semitech.com+86 158 0194 2596 /doris@xkh-semitech.com+86 187 0175 6522
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